特許詳細

危害要因定量方法、危害要因定量装置、および、プログラム

課題

蛍光指紋を測定し解析することにより、煩雑な前処理を不要にし、迅速かつ容易に危害要因を検知することができる危害要因検知方法、危害要因検知装置、および、プログラムを提供することを課題とする。

解決手段

本発明は、所定の励起波長範囲および所定の蛍光波長範囲で、照射する励起波長および観測する蛍光波長を段階的に変化させながら、測定対象物の蛍光強度を測定して、測定対象物の蛍光指紋情報を取得し、取得した蛍光指紋情報に対して多変量解析を行い、当該多変量解析の結果に基づいて、測定対象物から危害要因を検知する。

出願日 出願番号 公開日 公開番号 登録日 登録番号
2011年2月25日 2011-040398 2012年9月13日 2012-177606 2015年11月20日 5840845
出願人
機構内発明者
杉山 純一 外3名
法人番号 7050005005207